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顯微成像橢偏儀結合了橢偏技術與光學顯微成像技術
2025-10-31
顯微成像橢偏儀是一種結合光學顯微成像與橢偏技術的儀器，主要用于測量薄膜厚度、折射率、吸收系數等參數，并獲取樣品表面的三維形貌分布。顯微成像橢偏儀基于橢圓偏振原理，通過分析入射偏振光經樣品反射或透射后的偏振態變化，結合光學顯微成像技術，獲取樣品表面的三維形貌分布及薄膜厚度、折射率等光學參數。過程包括：光源與偏振控制：光源發出的光經起偏器變為線偏振光，再通過補償器調整為特定偏振狀態(如橢圓偏振光)。樣品相互作用：偏振光入射到樣品表面，與樣品發生反射或透射，偏振狀態因樣品特性(如薄...
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深度解微納3D打印機實現高精度的核心原理
2025-10-23
微納3D打印機能在微米甚至納米尺度實現復雜結構的精準制造，其高精度突破傳統制造技術的極限，核心在于“光-材料-控制”的協同優化。一、核心原理：微納3D打印的本質是通過高能量密度束流(如激光、電子束)或微滴噴射，在特定區域選擇性固化/熔融材料，逐層堆積形成三維結構。以雙光子聚合(TPP)技術為例，其利用飛秒激光(波長780-800nm，脈沖寬度GW/cm2)，使光敏樹脂(含光引發劑)在焦點處發生雙光子吸收(傳統單光子吸收僅在激光路徑線性吸收，而雙光子吸收需兩個光子同時作用于同一...
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核心技術揭秘：離子濺射儀的工作原理與獨特設計特點剖析
2025-10-18
離子濺射儀是制備高純度、高結合力金屬/化合物薄膜的核心設備，其通過離子轟擊靶材實現原子級沉積，廣泛應用于半導體芯片、光學器件及納米材料領域。理解其工作原理與設計特點，是優化薄膜性能的關鍵。一、工作原理：離子濺射的核心是“動量轉移”。設備通過氣體放電(通常為氬氣，純度99.999%)產生等離子體(含大量Ar?離子)，在高壓電場(通常-300V至-1000V)作用下，Ar?離子加速轟擊靶材(如金屬鈦、氧化物陶瓷)表面。離子與靶材原子發生彈性碰撞，將動能傳遞給靶材原子(單個Ar?離...
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壓電陶瓷高壓極化儀主要用于對壓電陶瓷材料進行極化處理
2025-09-26
壓電陶瓷高壓極化儀通過施加直流電場使其內部電疇沿電場方向排列，從而賦予材料壓電性能。壓電陶瓷在極化前，各晶粒內的自發極化方向隨機分布，導致材料整體無壓電效應。極化儀通過施加高電壓并控制溫度、時間參數，迫使電疇沿電場方向定向排列，形成單疇結構，使材料獲得宏觀的壓電性能。該設備廣泛應用于超聲換能器、水聲/電聲設備、醫學成像、傳感器等需要壓電材料的領域。?壓電陶瓷本身不具備壓電性能，需通過人工極化處理實現電疇定向排列。其核心機理是：在陶瓷樣品兩端施加足夠強度的直流電場(通常3-5k...
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課題組的寵兒--科研專用臺式原子層沉積系統（臺式ALD)
2025-08-18
一臺來自哈佛大學的原子層沉積系統一臺科研用的原子層沉積系統一臺備受課題組歡迎的ALD市面上小而美的ALD您值得擁有！！盈思拓(Insontech)----AnricTechnologies公司中國區總代表處AnricTechnologies成立于2014年，由哈佛大學ALD工藝著名專家RoyGordon教授組的研究人員創立，旨在填補市場小型臺式原子層沉積(ALD設備)的空白，是為大學、初創企業、探索原子層沉積(ALD)技術的公司、啟動試點生產線以及專業制造商提供設計和優化的工...
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氣相輸運與沉積系統的維護保養：腔體清潔與部件更換
2025-07-21
氣相輸運與沉積系統的穩定運行高度依賴腔體潔凈度和部件性能，科學的維護保養可使薄膜沉積均勻性提升15%，設備故障間隔延長至1000小時以上。腔體清潔與部件更換需遵循“預防為主、分級維護”原則，針對不同污染類型和部件損耗特性制定精準方案。?腔體清潔需按污染程度分級處理。輕度污染(沉積薄膜厚度20μm)需使用超聲清洗：將可拆部件放入盛有5%氫氟酸溶液的超聲槽(頻率40kHz)，清洗15分鐘后用去離子水沖洗至pH=7，烘干后裝配(避免裸手接觸，需戴潔凈手套)。?關鍵部件的更換需把握壽...
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膜厚測試千里眼，選區觀測1µm - 市面上的高分辨率顯微成像橢偏技術
2025-07-17
產品技術簡介有別于傳統橢偏儀，這是新一代的顯微成像橢偏儀技術，它有機地結合了傳統光譜橢偏儀和光學顯微鏡技術，使得我們能夠在小至1µm的微結構上以橢偏儀的靈敏度表征薄膜厚度和折射率。顯微鏡部分能夠同時測量光學系統全視場范圍內的所有結構。傳統的橢偏儀注重于測量整個光斑，而不能實現高精度的橫向分辨率，并且需要逐點測量。該設備的顯微鏡功能使得我們能夠獲得微觀結構的橢偏增強對比圖像，在相機的實時圖像中可以看到折射率或厚度的微小變化。允許識別橢偏測量的感興趣區域（選區測量），...
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多功能高低溫真空探針臺簡介
2025-07-01
多功能高低溫真空探針臺，結構緊湊，體積小，探針移動不受真空內外壓差影響，電-光-氣接口齊全，應用場景不受限。可實現寬溫度范圍、高真空或氣氛控制；同時，高精度線性升降溫程序控制，確保冷熱循環測試方便可靠。本探針臺與各種阻抗分析儀、LCR表、鐵電測試儀、光伏測試儀、半導體參數測試儀、源表等聯用，特別適合介電、鐵電、壓電、半導體、光伏、氣敏等功能材料與器件的溫度和氣氛依賴性測量。多功能高低溫真空探針臺INS-VP-01（配置10kV高壓探針）多功能高低溫真空探針臺INS-VP-02...
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