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PSEL勞厄衍射系統

產品簡介

該設備利用背衍射法探測材料的晶體結構,常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質量等

產品型號:
更新時間:2025-09-25
廠商性質:經銷商
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        該設備利用背衍射法探測材料的晶體結構,常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質量等。支持實時成像和累計曝光兩種工作模式,最長曝光時間達30分鐘,最短可至毫秒。空間分辨率高、用戶界面直觀。



┃ 設備特點


  • PSEL軟件定向誤差低至0.05度

  • 多晶硅片二維定向mapping

  • 大批量樣品篩選

  • 超20kg重負荷樣品定位

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