產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心測試設(shè)備光學(xué)測試設(shè)備SENresearch4.0寬光譜橢偏儀
SENresearch4.0寬光譜橢偏儀
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測試設(shè)備
17710506869
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臺(tái)式XRD——您課題組的標(biāo)配
原位XAS、XRD和Raman對(duì)催化劑的相形態(tài)表征
多功能高低溫真空探針臺(tái)簡介
實(shí)驗(yàn)室的各種清洗解決方案
TGA在氫能材料中的應(yīng)用
膜厚測試千里眼,選區(qū)觀測1µm - 市面上的高分辨率顯微成像橢偏技術(shù)
在寬的光譜范圍從190nm(深紫外)到3,500nm(近紅外)。可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣義橢偏、散射測量等。使用步進(jìn)掃描分析器原理實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果。
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